• Inicio
  • Pin stubs grabados, Pin stubs grabados, Pin stubs grabados
  • Portamuestras SEM tipo Pin Stub, grabado con 4 secciones numeradas, Ø 19 mm de diámetro. Fabricado en aluminio apto para vacío, para uso con los sistemas SEM de TFS, FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, etc. (10 unidades)

Portamuestras SEM tipo Pin Stub, grabado con 4 secciones numeradas, Ø 19 mm de diámetro. Fabricado en aluminio apto para vacío, para uso con los sistemas SEM de TFS, FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, etc. (10 unidades)