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  • Patrón trazable de calibración de aumentos con área grande trazable, modelo EM-Tec LAMC-15 montado en stub HITACHI con Ø 25 mm de diámetro. Desarrollado para SEM y microscopios de luz reflejada, con las siguientes aplica (1 unidad)ciones: calibración de bajo aumento, calibración de aumento de área grande, mediciones de análisis de partículas, mediciones de GSR, mediciones de linealidad y reproducibilidad de la platina del microscopio, sistemas de imágenes digitales … (1 unidad)

Patrón trazable de calibración de aumentos con área grande trazable, modelo EM-Tec LAMC-15 montado en stub HITACHI con Ø 25 mm de diámetro. Desarrollado para SEM y microscopios de luz reflejada, con las siguientes aplica (1 unidad)ciones: calibración de bajo aumento, calibración de aumento de área grande, mediciones de análisis de partículas, mediciones de GSR, mediciones de linealidad y reproducibilidad de la platina del microscopio, sistemas de imágenes digitales … (1 unidad)