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  • Patrón certificado de calibración de aumentos, modelo EM-Tec MCS-0,1CF, de 2,5mm a 100nm, desmontado (sin stub). Certificado individualmente con estándar de calibración medido por NIST. Desarrollado para calibrar con precisión SEM, FESEM, Auger, SIMS y microscopios de luz reflejada. Apto para aumentos de 10x a 200.000x … (1 unidad)

Patrón certificado de calibración de aumentos, modelo EM-Tec MCS-0,1CF, de 2,5mm a 100nm, desmontado (sin stub). Certificado individualmente con estándar de calibración medido por NIST. Desarrollado para calibrar con precisión SEM, FESEM, Auger, SIMS y microscopios de luz reflejada. Apto para aumentos de 10x a 200.000x … (1 unidad)