Presupuesto- Inicio
- Otros accesorios y consumibles para Hitachi TM, Calibración SEM / FIB
- Patrón certificado de calibración de aumentos, modelo EM-Tec MCS-0,1CF, de 2,5mm a 100nm, montado en stub HITACHI con Ø 15 mm de diámetro. Certificado individualmente con estándar de calibración medido por NIST. Desarrollado para calibrar con precisión SEM, FESEM, Auger, SIMS y microscopios de luz reflejada. Apto para aumentos de 10x a 200.000x … (1 unidad)
- SEM de sobremesa
- Preparación de Muestras
- Cintas-pegatinas-epoxis-pegamentos-y-pinturas conductoras
- Adhesivos no conductores
- Discos para metalizar muestras (Sputter targets)
- Ø 19 mm diámetro para Gatan
- Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
- Ø 28 mm diámetro para Cressington 208 HRD
- Ø 30 mm diámetro para Luxor
- Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
- Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
- Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
- Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
- Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
- Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
- Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
- Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
- Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
- Hilos para metalizar muestras
- Varillas y fibras de carbono
- Fluido conductor recubridor de muestras
- Substratos y soportes
- Pinzas
- Herramientas especiales
- Manipuladores finos
- Pistola antiestática
- Pulido, esmerilado y limpieza de metales y vidrio
- Muestras metalográficas
- Portamuestras
- Planos para muestras metalográficas individuales con agarre por tornillo
- Planos para múltiples muestras metalográficas con agarre por tornillo
- Portamuestras holder metalográficos con S-Clip
- Portamuestras holder preinclinados para EBSD y t-EBSD
- Portamuestras holder con referencia superior
- Portaobjetos negros
- Resinas, ceras y polvos metálicos conductores
- Moldes y vasos de precipitado
- Prensado y grabado
- Clips para embebido metalográfico
- Pasta pulidora de diamante
- Otras pastas y líquidos de pulido
- Desgasificación y desecado
- Herramientas de corte con diamante
- Pinzas metalográficas
- Patrones de calibración con retícula individual
- Portamuestras
- Transbordador al vacío de muestras SEM sensibles al aire
- Para microscopía correlativa y demostración
- Almacenamiento de muestras
- Bolsas de aluminio con cierre ziplock y termo sellado
- Cajas desecadoras de gel de sílice
- Cajas criogénicas para Rejillas TEM (grids)
- Cajas de plástico o aluminio para Rejillas TEM (grids)
- Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
- Cajas almacenamiento de stubs con pin (Pin Stubs)
- Cajas de almacenamiento de stubs Hitachi M4
- Cajas de almacenamiento de stubs JEOL
- Cajas magnéticas para discos AFM/SPM
- Cajas almacenamiento portaobjetos de vidrio microscopía óptica
- Cajitas para transporte de obleas
- Cajas de plástico transparentes y otras
- Cajitas de plástico con membrana
- Cajitas de cartón
- Almacenamiento de muestras al vacío
- Preparación de muestras líquidas
- Consumibles SEM
- Portamuestras para transfrencias al vacío
- Portamuestras SEM tipo stub y pin stub
- Adaptadores de stubs para uso multiplataforma
- Portamuestras SEM tipo holder
- Portamuestras SEM para muestras esféricas o irregulares
- Portamuestras SEM inclinados
- Portamuestras SEM para muestras pequeñas
- Portamuestras SEM con S-Clip
- Portamuestras SEM de perfil bajo (Low Profile) con S-Clip
- Portamuestras SEM con agarre de tornillo
- Portamuestras SEM con tornillo de banco
- Portamuestras SEM con sujeción por los cuatro lados
- Portamuestras para probetas metalográficas
- Portamuestras para EBSD y t-EBSD
- Portamuestras con referencia superior
- Portamuestras para imágenes STEM
- Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
- Portamuestras SEM para Rejillas TEM (grids)
- Holders para microscopía correlativa y demostración
- Pinzas especiales para stubs y pin stubs
- Preparación de muestras líquidas SEM/EDS
- Cintas y pegatinas conductoras de carbono
- Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para SEM
- Otros accesorios y consumibles para JEOL Neoscope
- Otros accesorios y consumibles para SEMs Phenom
- Otros accesorios y consumibles para Hitachi TM
- Consumibles TEM
- Rejillas TEM (grids)
- Rejillas TEM (grids) con película de soporte
- Rejillas TEM (grids) con película de solo Carbono
- Rejillas TEM (grids) de localización posicional con película de Carbono perforada y sin perforar
- Rejillas TEM (grids) con película de Grafeno
- Rejillas TEM (grids) con películas de Grafeno y Carbono perforado resistente
- Rejillas TEM (grids) con película de Pioloform
- Rejillas TEM (grids) con película doble de Pioloform y Carbono
- Rejillas TEM (grids) con película de Formvar
- Rejillas TEM (grids) con película doble de Formvar y Carbono
- Películas soporte de nitruro de silicio
- Cajas almacenamiento de Rejillas TEM (grids)
- Preparación muestras líquidas TEM/SEM/FESEM
- Tinción de muestras TEM
- Tubos para embutido de muestras TEM
- Manipuladores de precisión para ultramicrotomía
- Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para TEM
- Pistola antiestática
- Consumibles FIB
- Microscopía correlativa y demostración
- Rejillas para extracción lamelas FIB (lift-out grids)
- Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
- Portamuestras FIB tipo pin stub de perfil bajo (low profile)
- Portamuestras FIB inclinados para pin stubs
- Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
- Pinzas especiales para pin stubs
- Consumibles AFM/SPM
- Celdas para Muestras Líquidas
- Microscopía Óptica y Digital
- Patrones de Calibración
- Accesorios de Vacío
- Contenedores de vidrio de alto vacío
- Contenedores para almacenamiento y transporte de muestras al vacío
- Transbordador de muestras al vacío
- Cámaras de vacío para desecar, desgasificar, limpiar y almacenar
- Bombas de vacío para laboratorio y producción
- Insonorización bombas de vacío
- Medidores de vacío (Vacuómetros)
- Sellador de vacío
- Aceites y grasas
- Desecadores de gel de sílice
- Sistemas de Recubrimiento
- Fluido conductor para recubrir muestras
- Metalizadoras y evaporadoras
- Discos metalizadores (Sputter targets)
- Ø 19 mm diámetro para Gatan
- Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
- Ø 28 mm diámetro para Cressington 208 HRD
- Ø 30 mm diámetro para Luxor
- Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
- Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
- Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
- Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
- Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
- Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
- Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
- Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
- Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
- Varillas y fibras de carbono
- Hilos metalizadores para evaporación al vacío
- Metalografía
- Portamuestras metalográficos
- Portas planos con agarre por tornillo de muestras metalográficas individuales
- Portas planos con agarre por tornillo de muestras metalográficas múltiples
- Portamuestras tipo holder con S-Clip
- Portamuestras preinclinados tipo holder para EBSD y t-EBSD
- Portamuestras tipo holder con referencia superior
- Portaobjetos de aluminio negros
- Resinas, ceras y polvos conductores
- Vasos de precipitado de Teflon (PTFE)
- Moldes de silicona
- Herramientas de prensado y grabado
- Pinzas de metalografia
- Clips de embebido metalográfico
- Corte con diamante
- Pulido, esmerilado y limpieza
- Desgasificado y desecado
- Patrones de calibración de retícula individual
- Portamuestras metalográficos
- Otro equipamiento