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  • Patrón trazable de calibración con cuadrícula de 1 µm, modelo EM-Tec M1 montado en stub HITACHI con Ø 15 mm de diámetro. Rastreable por NIST. Desarrollado para SEM, FESEM, FIB, Auger, SIMS y microscopía de luz reflejada. Aplicable para evaluaciones de calibración o distorsión de imagen en el rango de aumento de 100x a 10,000x. El tamaño del patrón es de 3×3 mm con líneas grabadas directamente en un … (1 unidad)

Patrón trazable de calibración con cuadrícula de 1 µm, modelo EM-Tec M1 montado en stub HITACHI con Ø 15 mm de diámetro. Rastreable por NIST. Desarrollado para SEM, FESEM, FIB, Auger, SIMS y microscopía de luz reflejada. Aplicable para evaluaciones de calibración o distorsión de imagen en el rango de aumento de 100x a 10,000x. El tamaño del patrón es de 3×3 mm con líneas grabadas directamente en un … (1 unidad)