• Inicio
  • Patrones de Calibración, Calibración SEM / FIB
  • Patrón trazable de calibración con cuadrícula de 10 µm, modelo EM-Tec M-10, desmontado (sin stub). Rastreable por NIST. Desarrollado para SEM (incluidos los de sobremesa), FIB, Auger, SIMS y microscopía de luz reflejada. Aplicable para evaluaciones de calibración o distorsión de imagen en el rango de aumento de 100x a 10,000x. El tamaño del patrón es … (1 unidad)

Patrón trazable de calibración con cuadrícula de 10 µm, modelo EM-Tec M-10, desmontado (sin stub). Rastreable por NIST. Desarrollado para SEM (incluidos los de sobremesa), FIB, Auger, SIMS y microscopía de luz reflejada. Aplicable para evaluaciones de calibración o distorsión de imagen en el rango de aumento de 100x a 10,000x. El tamaño del patrón es … (1 unidad)