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  • Patrón trazable trazable de calibración de aumentos, modelo EM-Tec MCS-1TR de 2,5mm a 1µm montado en stub HITACHI con Ø 15 mm de diámetro. Rastreable a nivel de oblea contra un estándar de calibración medido por NIST. Desarrollado para calibrar con precisión SEM de sobremesa, microscopios de luz reflejada, SEM compactos y los SEM estándar en el rango de aumento bajo a medio. Apto para aumentos de 10x a 20.000x. … (1 unidad)

Patrón trazable trazable de calibración de aumentos, modelo EM-Tec MCS-1TR de 2,5mm a 1µm montado en stub HITACHI con Ø 15 mm de diámetro. Rastreable a nivel de oblea contra un estándar de calibración medido por NIST. Desarrollado para calibrar con precisión SEM de sobremesa, microscopios de luz reflejada, SEM compactos y los SEM estándar en el rango de aumento bajo a medio. Apto para aumentos de 10x a 20.000x. … (1 unidad)