• Inicio
  • Otros accesorios y consumibles para Hitachi TM, Calibración SEM / FIB, Patrones con múltiples retículas regladas
  • Patrón trazable de calibración multiple para campo claro, modelo Micro-TEC MTC-5F montado en stub HITACHI con Ø 25 mm de diámetro, con 4 patrones: circulares de 5 µm a 5 mm de diámetro, cuadrados de 5×5 µm a 5×5 mm, hexagonales de 5 µm a 5 mm de ancho y patrones de escala cruzada de 5×5 mm con divisiones de 0,002 mm. Para calibrar microscopios de luz reflectante, microscopios estereoscópicos, sistemas de control de calidad óptica e imágenes SEM de bajo aumento. Aplicaciones: calibración de … (1 unidad)

Patrón trazable de calibración multiple para campo claro, modelo Micro-TEC MTC-5F montado en stub HITACHI con Ø 25 mm de diámetro, con 4 patrones: circulares de 5 µm a 5 mm de diámetro, cuadrados de 5×5 µm a 5×5 mm, hexagonales de 5 µm a 5 mm de ancho y patrones de escala cruzada de 5×5 mm con divisiones de 0,002 mm. Para calibrar microscopios de luz reflectante, microscopios estereoscópicos, sistemas de control de calidad óptica e imágenes SEM de bajo aumento. Aplicaciones: calibración de … (1 unidad)