Portamuestras FIB tipo Holder de alta capacidad para hasta 8 rejillas FIB (grids). Modelo EM-Tec F18. Fabricado en aluminio de grado vacío, con pin estándar de Ø 3,2 mm de diámetro apto para los sistemas FIB/SEM de TESCAN, FEI (Dualbeam) y ZEISS (Crossbeam). (1 unidad)